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23 流体系统和通用件
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31 电子学
33 电信、音频和视频工程
35 信息技术、办公机械
37 成像技术
39 精密机械、珠宝
43 道路车辆工程
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49 航空器和航天器工程
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59 纺织和皮革技术
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67 食品技术
71 化工技术
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75 石油及相关技术
77 冶金
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83 橡胶和塑料工业
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91 建筑材料和建筑物
93 土木工程
95 军事工程
97 家用和商用设备、文娱、体育
01 综合、术语学、标准化、文献
03 社会学、服务、公司(企业)的组织和管理、行政、运输
07 数学、自然科学
31 电子学
31 电子学
收录
4022
项
全部状态
现行
即将实施
废止
下级分类
31.020 电子元器件综合
31.030 电子技术专用材料
31.040 电阻器
31.040.01 电阻器综合
31.040.10 固定电阻器
31.040.20 电位器、可变电阻器
31.040.30 热敏电阻器
31.040.99 其他电阻器
31.060 电容器
31.060.01 电容器综合
31.060.10 固定电容器
31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器
31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器
31.060.40 钽电解电容器
31.060.50 铝电解电容器
31.060.60 可变电容器
31.060.70 电力电容器
31.060.99 其他电容器
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
31.080.10 二极管
31.080.20 晶体闸流管
31.080.30 三极管
31.080.99 其他半导体分立器件
31.100 电子管
31.120 电子显示器件
31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件
31.160 滤波器
31.180 印制电路和印制电路板
31.190 电子元器件组件
31.200 集成电路、微电子学
31.220 电子电信设备用机电元件
31.220.01 机电元件综合
31.220.10 插头和插座装置、连接器
31.220.20 开关
31.220.99 其他机电零部件
31.240 电子设备用机械构件
31.260 光电子学、激光设备
左右滑动表格,可查看日期并点击排序
标准号
标准名称
状态
发布日期
↕
实施日期
↕
JB/T 8951.4-2025
绝缘栅双极晶体管(IGBT) 第4部分:单相桥模块
现行
2025-07-02
2026-02-01
JB/T 8951.2-2025
绝缘栅双极晶体管(IGBT) 第2部分:臂模块
现行
2025-07-02
2026-02-01
JB/T 8951.5-2025
绝缘栅双极晶体管(IGBT) 第5部分:三相桥模块
现行
2025-07-02
2026-02-01
YD/T 6447-2025
信息通信综合布线系统场景与要求 分布式建筑园区
现行
2025-07-02
2025-11-01
YD/T 6448-2025
信息通信综合布线系统场景与要求 商务楼宇
现行
2025-07-02
2025-11-01
JB/T 5836.1-2025
快恢复二极管 第1部分:单管
现行
2025-07-02
2026-02-01
DL/T 628-2025
集合式高压并联电容器使用技术条件
现行
2025-06-30
2025-12-30
GB/T 45908-2025
氯化钠光学元件
现行
2025-06-30
2026-01-01
T/ZOIA 3020-2025
半导体磁阻元件技术规范
现行
2025-06-16
2025-06-16
T/ESD 3005-2025
潮湿及静电敏感电子元器件用防静电包装组件通用技术规范
现行
2025-06-12
2025-07-01
T/ZZB 0819-2025
机柜电控锁
现行
2025-06-12
2025-07-12
T/CVIA 160-2025
远像电子显示终端技术规范
现行
2025-06-12
2025-06-12
T/SUCA 009-2025
MLCD屏显示一致性技术规范
现行
2025-06-05
2025-06-05
T/SICA 008-2025
半导体IBO套刻设备验收规范
现行
2025-06-03
2025-07-03
GB/T 45713.4-2025
电子装联技术 第4部分:阵列型封装表面安装器件焊点的耐久性试验方法
现行
2025-05-30
2025-09-01
GB/T 33772.2-2025
质量评定体系 第2部分:电子元器件及封装件检验用抽样方案的选择和使用
现行
2025-05-30
2025-12-01
GB/T 18501.8101-2025
电子和电气设备用连接器 产品要求 第8-101部分:电源连接器 2芯、3芯40 A功率加2芯信号塑料外壳屏蔽密封连接器详细规范
现行
2025-05-30
2025-12-01
GB/T 45719-2025
半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验
现行
2025-05-30
2025-09-01
GB/T 45720-2025
半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿(TDDB)试验
现行
2025-05-30
2025-09-01
GB/T 20871.62-2025
有机发光二极管显示器件 第6-2部分:测试方法 视觉质量和亮室性能
现行
2025-05-30
2025-12-01
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