H80 半金属与半导体材料综合

收录 87 项

左右滑动表格，可查看日期并点击排序

标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 37051-2018	太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法	现行	2018-12-28	2019-04-01
T/IAWBS 005-2018	6 英寸碳化硅单晶抛光片	现行	2018-12-06	2018-12-17
T/IAWBS 006-2018	碳化硅混合模块测试方法	现行	2018-12-06	2018-12-17
T/IAWBS 007-2018	4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法	现行	2018-12-06	2018-12-17
GB/T 35316-2017	蓝宝石晶体缺陷图谱	现行	2017-12-29	2018-07-01
T/IAWBS 003-2017	碳化硅外延层载流子浓度测定_汞探针电容-电压法	现行	2017-12-20	2017-12-31
GB/T 34479-2017	硅片字母数字标志规范	现行	2017-10-14	2018-07-01
GB/T 32279-2015	硅片订货单格式输入规范	现行	2015-12-10	2017-01-01
YS/T 28-2015	硅片包装	已废止	2015-04-30	2015-10-01
GB/T 13389-2014	掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程	现行	2014-12-31	2015-09-01
YS/T 985-2014	硅抛光回收片	现行	2014-10-14	2015-04-01
YS/T 986-2014	晶片正面系列字母数字标志规范	现行	2014-10-14	2015-04-01
GB/T 30453-2013	硅材料原生缺陷图谱	现行	2013-12-31	2014-10-01
GB/T 14863-2013	用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法	已废止	2013-12-31	2014-08-15
GB/T 30110-2013	空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法	现行	2013-12-17	2014-05-15
DB65/T 3486-2013	太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法	已废止	2013-10-20	2013-12-01
DB65/T 3485-2013	太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法	已废止	2013-09-20	2013-12-01
GB/T 29505-2013	硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29507-2013	硅片平整度、厚度及总厚度变化测试自动非接触扫描法	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29057-2012	用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程	已废止	2012-12-31	2013-10-01