29.045 半导体材料

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 12964-2003	硅单晶抛光片	已废止	2003-06-16	2004-01-01
GB/T 19199-2003	半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法	已废止	2003-06-16	2004-01-01
YS 68-2004	砷	已废止	2004-06-17	2004-11-01
GB/T 12962-2005	硅单晶	已废止	2005-09-19	2006-04-01
GB/T 12965-2005	硅单晶切割片和研磨片	已废止	2005-09-19	2006-04-01
GB/T 20229-2006	磷化镓单晶	已废止	2006-04-21	2006-10-01
GB/T 20230-2006	磷化铟单晶	已废止	2006-04-21	2006-10-01
GB/T 20228-2006	砷化镓单晶	已废止	2006-04-21	2006-10-01
GB/T 11071-2006	区熔锗锭	已废止	2006-07-18	2006-11-01
GB/T 11069-2006	高纯二氧化锗	已废止	2006-07-18	2006-11-01
GB/T 11070-2006	还原锗锭	已废止	2006-07-18	2006-11-01
GB/T 11094-2007	水平法砷化镓单晶及切割片	已废止	2007-09-11	2008-02-01
YS/T 679-2008	非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法	已废止	2008-03-12	2008-09-01
GB/T 2881-2008	工业硅	已废止	2008-03-31	2008-09-01
GB/T 1553-2009	硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 6616-2009	半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法非接触涡流法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24581-2009	低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 14264-2009	半导体材料术语	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 14140-2009	硅片直径测量方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24582-2009	酸浸取-电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质	已废止	2009-10-30	2010-06-01