29.045 半导体材料

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 26066-2010	硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26072-2010	太阳能电池用锗单晶	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26068-2010	硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26071-2010	太阳能电池用硅单晶切割片	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26069-2010	硅退火片规范	已废止	2011-01-10	2011-10-01
DB35/T 1146-2011	硅材料中杂质元素含量测定辉光放电质谱法	已废止	2011-04-10	2011-07-10
YS/T 43-2011	高纯砷	现行	2011-12-20	2012-07-01
YS/T 792-2012	单晶炉用碳_碳复合材料坩埚	现行	2012-11-07	2013-03-01
YS/T 838-2012	碲化镉	现行	2012-11-07	2013-03-01
GB/T 29057-2012	用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程	已废止	2012-12-31	2013-10-01
GB/T 29055-2012	太阳电池用多晶硅片	已废止	2012-12-31	2013-10-01
GB/T 29054-2012	太阳能级铸造多晶硅块	已废止	2012-12-31	2013-10-01
GB/T 29504-2013	300mm 硅单晶	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29505-2013	硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29508-2013	300mm 硅单晶切割片和磨削片	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29506-2013	300mm 硅单晶抛光片	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29507-2013	硅片平整度、厚度及总厚度变化测试自动非接触扫描法	现行	2013-05-09	2014-02-01
DB65/T 3485-2013	太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法	已废止	2013-09-20	2013-12-01
DB65/T 3486-2013	太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法	已废止	2013-10-20	2013-12-01
GB/T 29850-2013	光伏电池用硅材料补偿度测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15