29.045 半导体材料
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 979-2014 | 高纯三氧化二镓 | 现行 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| YS/T 982-2014 | 氢化炉碳_碳复合材料U形发热体 | 现行 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| SJ/T 11470-2014 | 发光二极管外延片 | 现行 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| SJ/T 11471-2014 | 发光二极管外延片测试方法 | 现行 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| GB/T 2881-2014 | 工业硅 | 已废止 | 2014-12-05 | 2015-08-01 |
| GB/T 31092-2014 | 蓝宝石单晶晶锭 | 已废止 | 2014-12-22 | 2015-09-01 |
| GB/T 30656-2014 | 碳化硅单晶抛光片 | 已废止 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| GB/T 12963-2014 | 电子级多晶硅 | 已废止 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| GB/T 30652-2014 | 硅外延用三氯氢硅 | 已废止 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| GB/T 13389-2014 | 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程 | 现行 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| YS/T 1061-2015 | 改良西门子法多晶硅用硅芯 | 已废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| YS/T 543-2015 | 半导体键合用铝-硅细丝 | 已废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| YS/T 28-2015 | 硅片包装 | 已废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| YS/T 13-2015 | 高纯四氯化锗 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11488-2015 | 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11489-2015 | 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11490-2015 | 低位错密度砷化镓拋光片蚀坑密度的测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11487-2015 | 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11495-2015 | 硅中间隙氧的转换因子指南 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11493-2015 | 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法 | 已废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |