29.045 半导体材料

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 14844-2018	半导体材料牌号表示方法	现行	2018-12-28	2019-11-01
GB/T 8756-2018	锗晶体缺陷图谱	现行	2018-12-28	2019-07-01
GB/T 37053-2018	氮化镓外延片及衬底片通用规范	现行	2018-12-28	2019-07-01
GB/T 37051-2018	太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法	现行	2018-12-28	2019-04-01
T/IAWBS 005-2018	6 英寸碳化硅单晶抛光片	现行	2018-12-06	2018-12-17
T/IAWBS 006-2018	碳化硅混合模块测试方法	现行	2018-12-06	2018-12-17
T/IAWBS 007-2018	4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法	现行	2018-12-06	2018-12-17
T/ZZB 0648-2018	200 mm重掺磷直拉硅单晶抛光片	现行	2018-10-19	2018-11-01
GB/T 26071-2018	太阳能电池用硅单晶片	已废止	2018-09-17	2019-06-01
GB/T 12965-2018	硅单晶切割片和研磨片	现行	2018-09-17	2019-06-01
GB/T 25076-2018	太阳能电池用硅单晶	已废止	2018-09-17	2019-06-01
GB/T 12964-2018	硅单晶抛光片	现行	2018-09-17	2019-06-01
GB/T 36706-2018	磷化铟多晶	现行	2018-09-17	2019-06-01
GB/T 35308-2017	太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片	现行	2017-12-29	2018-07-01
GB/T 35305-2017	太阳能电池用砷化镓单晶抛光片	已废止	2017-12-29	2018-07-01
GB/T 35307-2017	流化床法颗粒硅	已废止	2017-12-29	2018-07-01
GB/T 35316-2017	蓝宝石晶体缺陷图谱	现行	2017-12-29	2018-07-01
GB/T 35310-2017	200mm硅外延片	现行	2017-12-29	2018-07-01
T/IAWBS 002-2017	碳化硅外延片表面缺陷测试方法	现行	2017-12-20	2017-12-31
T/IAWBS 003-2017	碳化硅外延层载流子浓度测定_汞探针电容-电压法	现行	2017-12-20	2017-12-31