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31 电子学

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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
SJ 20081-1992有可靠性指标的CBBK23型(非金属壳)双面金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器详细规范现行1992-11-191993-05-01
SJ 20079-1992金属氧化物半导体气敏元件试验方法现行1992-11-191993-05-01
SJ 20078-1992液晶显示器件总规范现行1992-11-191993-05-01
SJ 20077-1992热设计指南现行1992-11-191993-05-01
SJ 20217-1992WJ24型螺杆驱动非线绕预调电位器详细规范现行1992-11-191993-05-01
SJ 20216-1992WJ22型螺杆驱动非线绕预调电位器详细规范现行1992-11-191993-05-01
SJ 20191-1992CCK103型有可靠性指标的瓷介固定电容器详细规范现行1992-11-191993-05-01
SJ 20192-1992CCK104型有可靠性指标的瓷介固定电容器详细规范现行1992-11-191993-05-01
SJ 20194-1992CCK402型有可靠性指标的瓷介固定电容器详细规范现行1992-11-191993-05-01
SJ 20195-1992CCK403型有可靠性指标的瓷介固定电容器详细规范现行1992-11-191993-05-01
SJ 20183-1992半导体分立器件3DD6型功率晶体管详细规范现行1992-11-191993-05-01
SJ 20167-1992电子管SF-1403型硅增强靶,摄象管详细规范现行1992-11-191993-05-01
SJ 20165-1992电子管J405Y型辐射计数管详细规范现行1992-11-191993-05-01
GB/T 14004-1992电子设备用固定电容器 第六部分:分规范 金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器可供认证用现行1992-12-171993-08-01
GB/T 14032-1992半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理现行1992-12-171993-08-01
GB/T 13945-1992辉光放电显示管总规范(可供认证用)现行1992-12-171993-08-01
GB/T 14011-1992阴极射线管X射线辐射测试方法现行1992-12-171993-06-09
GB/T 14029-1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理现行1992-12-171993-08-01
GB/T 14031-1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理现行1992-12-171993-08-01
GB/T 14030-1992半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理现行1992-12-171993-08-01

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