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31 电子学

收录 4022 项
下级分类
31.020 电子元器件综合
31.030 电子技术专用材料
31.040 电阻器
31.040.01 电阻器综合
31.040.10 固定电阻器
31.040.20 电位器、可变电阻器
31.040.30 热敏电阻器
31.040.99 其他电阻器
31.060 电容器
31.060.01 电容器综合
31.060.10 固定电容器
31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器
31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器
31.060.40 钽电解电容器
31.060.50 铝电解电容器
31.060.60 可变电容器
31.060.70 电力电容器
31.060.99 其他电容器
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
31.080.10 二极管
31.080.20 晶体闸流管
31.080.30 三极管
31.080.99 其他半导体分立器件
31.100 电子管
31.120 电子显示器件
31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件
31.160 滤波器
31.180 印制电路和印制电路板
31.190 电子元器件组件
31.200 集成电路、微电子学
31.220 电子电信设备用机电元件
31.220.01 机电元件综合
31.220.10 插头和插座装置、连接器
31.220.20 开关
31.220.99 其他机电零部件
31.240 电子设备用机械构件
31.260 光电子学、激光设备
左右滑动表格，可查看日期并点击排序
标准号标准名称状态发布日期 实施日期
SJ/T 12065-2025热电堆单元红外探测器现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 12071-2025半导体器件 分立器件碳化硅二极管门类规范现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 12066-2025热电堆阵列红外探测器现行2025-12-192026-07-01
T/ZZB 1836-2025低涌流智能无功补偿装置现行2025-12-192026-01-19
SJ/T 12076-2025硅基光电子芯片封装设计导则现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 12077.5.12-2025激光显示器件 第5-12部分：光机模组测试方法现行2025-12-192026-04-01
SJ/T 12068-2025半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 12093-2025晶片精密研磨盘现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 12070-2025半导体器件 分立器件 碳化硅二极管可靠性试验方法现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 11460.3.3.2-2025显示光源组件 第3-3-2部分：电视接收机用侧光式LED背光组件详细规范现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 11624-2025发光二极管(LED)显示屏用发光二极管规范现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 11460.6.2-2025显示光源组件 第6-2部分：测试方法 LED背光组件动态光学与光电参数现行2025-12-192026-07-01
T/ZZB 3931-2025电力场站户外轮式巡检机器人现行2025-12-202025-12-31
T/ZZB 3949-2025阻焊制程激光直写式光刻设备现行2025-12-202025-12-31
T/ZZB 3936-2025中高压绝缘栅双极型晶体管（IGBT）驱动器现行2025-12-202025-12-31
T/SZSA 034-2025高速ESD&TVS保护类芯片测试规范现行2025-12-222026-01-01
T/CASAS 037-2027碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）栅极电荷试验方法现行2025-12-302025-12-30
GB/T 44937.6-2025集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法现行2025-12-312026-07-01
GB/T 4937.39-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第39部分：半导体器件用有机材料的潮气扩散率和水溶解度测量现行2025-12-312026-07-01
GB/T 46894-2025车辆集成电路电磁兼容试验通用规范现行2025-12-312026-07-01

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