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31 电子学

收录 3011 项
下级分类
31.020 电子元器件综合
31.030 电子技术专用材料
31.040 电阻器
31.040.01 电阻器综合
31.040.10 固定电阻器
31.040.20 电位器、可变电阻器
31.040.30 热敏电阻器
31.040.99 其他电阻器
31.060 电容器
31.060.01 电容器综合
31.060.10 固定电容器
31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器
31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器
31.060.40 钽电解电容器
31.060.50 铝电解电容器
31.060.60 可变电容器
31.060.70 电力电容器
31.060.99 其他电容器
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
31.080.10 二极管
31.080.20 晶体闸流管
31.080.30 三极管
31.080.99 其他半导体分立器件
31.100 电子管
31.120 电子显示器件
31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件
31.160 滤波器
31.180 印制电路和印制电路板
31.190 电子元器件组件
31.200 集成电路、微电子学
31.220 电子电信设备用机电元件
31.220.01 机电元件综合
31.220.10 插头和插座装置、连接器
31.220.20 开关
31.220.99 其他机电零部件
31.240 电子设备用机械构件
31.260 光电子学、激光设备
左右滑动表格，可查看日期并点击排序
标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 6352-1998半导体器件 分立器件 第6部分：闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范现行1998-11-171999-06-01
GB/T 6219-1998半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第一篇 1 GHz、5 W以下的单栅场效应晶体管 空白详细规范现行1998-11-171999-06-01
GB/T 9424-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范现行1998-11-171999-06-01
GB/T 6217-1998半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管 第一篇 高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范现行1998-11-171999-06-01
GB/T 6351-1998半导体器件 分立器件 第2部分：整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管包括雪崩整流二极管空白详细规范现行1998-11-171999-06-01
GB/T 17562.1-1998频率低于3 MHz的矩形连接器 第1部分：总规范 一般要求和编制有质量评定要求的连接器详细规范的导则现行1998-11-171999-07-01
GB/T 17573-1998半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分：总则现行1998-11-171999-06-01
GB/T 7576-1998半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管 第四篇 高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范现行1998-11-171999-06-01
GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路现行1998-11-171999-06-01
GB/T 6590-1998半导体器件 分立器件 第6部分：闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细规范现行1998-11-171999-06-01
GB/T 17572-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路 4000B和4000UB系列族规范现行1998-11-171999-06-01
YD/T 998.1-1999移动通信手持机用锂离子电源及充电器锂离子电源现行1999-01-071999-07-01
YD/T 998.2-1999移动通信手持机用锂离子电源及充电器充电器现行1999-01-071999-07-01
GB/T 17711-1999钇钡铜氧(123相)超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法现行1999-03-131999-10-01
JB/T 10079-1999金属带材弹性性能试验方法现行1999-05-141999-07-01
JB/T 8899-1999火花塞电极合金线现行1999-05-141999-07-01
GB/T 5597-1999固体电介质微波复介电常数的测试方法现行1999-05-191999-12-01
GB/T 12560-1999半导体器件 分立器件分规范现行1999-08-022000-03-01
JB/T 9401-1999侧窗荧炮分析X射线管现行1999-08-062000-01-01
JB/T 9493.3-1999锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 丁二酮肟质量法测定镍量现行1999-08-062000-01-01

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