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31 电子学

收录 4022 项

下级分类

31.020 电子元器件综合

31.030 电子技术专用材料

31.040 电阻器

31.040.01 电阻器综合

31.040.10 固定电阻器

31.040.20 电位器、可变电阻器

31.040.30 热敏电阻器

31.040.99 其他电阻器

31.060 电容器

31.060.01 电容器综合

31.060.10 固定电容器

31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器

31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器

31.060.40 钽电解电容器

31.060.50 铝电解电容器

31.060.60 可变电容器

31.060.70 电力电容器

31.060.99 其他电容器

31.080 半导体分立器件

31.080.01 半导体分立器件综合

31.080.10 二极管

31.080.20 晶体闸流管

31.080.30 三极管

31.080.99 其他半导体分立器件

31.100 电子管

31.120 电子显示器件

31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件

31.160 滤波器

31.180 印制电路和印制电路板

31.190 电子元器件组件

31.200 集成电路、微电子学

31.220 电子电信设备用机电元件

31.220.01 机电元件综合

31.220.10 插头和插座装置、连接器

31.220.20 开关

31.220.99 其他机电零部件

31.240 电子设备用机械构件

31.260 光电子学、激光设备

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 16880-1997	光掩模缺陷分类和尺寸定义的准则	现行	1997-06-20	1998-03-01
GB/T 16879-1997	掩模曝光系统精密度和准确度的表示准则	现行	1997-06-20	1998-03-01
SJ 20456/1-1997	SF-2108型热释电视象管详细规范	现行	1997-06-17	1997-10-01
GB/T 13823.18-1997	振动与冲击传感器的校准方法互易法校准	已废止	1997-06-06	1998-01-01
GB/T 16822-1997	介电晶体介电性能的试验方法	现行	1997-05-28	1998-02-01
JY/T 011-1996	透射电子显微镜方法通则	现行	1997-01-23	1997-04-01
TB/T 2760-1996	机车轴端光电转速传感器	现行	1997-01-03	1997-07-01
GB/T 4588.4-1996	多层印制板分规范	已废止	1996-12-30	1997-08-01
SJ/T 10944-1996	电真空器件用刚玉粉	现行	1996-11-20	1988-12-01
SJ/T 11020-1996	电子器件用银铜钎焊料的分析方法碘量法测定铜	现行	1996-11-20	1997-01-01
SJ/T 10924-1996	电子工业用硅酸钾溶液中二氧化硅含量的测定方法	现行	1996-11-20	1997-01-01
SJ/T 11023-1996	电子器件用银铜钎焊料的分析方法原子吸收分光光度法测定铋	现行	1996-11-20	1997-01-01
SJ/T 10937-1996	彩色显像管用屏玻璃色品坐标测试方法	现行	1996-11-20	1997-01-01
SJ/T 10921-1996	电子工业用硅酸钾溶液中碳酸钾的测定方法	现行	1996-11-20	1997-01-01
SJ/T 10954-1996	电子元器件详细规范 ZCK120型硅开关二极管(可供认证用)	现行	1996-11-20	1988-12-01
SJ/T 10929-1996	电子工业用硅酸钾溶液中重金属(Pb)的测定方法	现行	1996-11-20	1997-01-01
SJ/T 10923-1996	电子工业用硅酸钾溶液中总碱度的测定方法	现行	1996-11-20	1997-01-01
SJ/T 10918-1996	摄像管线圈组件测试方法	现行	1996-11-20	1988-10-01
SJ/T 11024-1996	电子器件用银铜钎焊料的分析方法原子吸收分光光度法测定锑	现行	1996-11-20	1997-01-01
SJ/T 11027-1996	电子器件用银铜钎焊料的分析方法原子吸收分光光度法测定镁	现行	1996-11-20	1997-01-01