H80 半金属与半导体材料综合

收录 87 项

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
YS/T 23-1992	硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法	已废止	1992-03-09	1993-01-01
YS/T 24-1992	外延钉缺陷的检验方法	已废止	1992-03-09	1993-01-01
GB/T 14264-1993	半导体材料术语	已废止	1993-03-20	1993-12-01
GB/T 14844-1993	半导体材料牌号表示方法	已废止	1993-12-30	1994-09-01
SN/T 0550.1-1996	出口金属硅中铁、铝、钙的测定分光光度法	现行	1996-07-10	1996-12-01
SN/T 0550.2-1996	出口金属硅中铁、铝、钙的测定容量法	现行	1996-07-10	1996-12-01
YS/T 679-2008	非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法	已废止	2008-03-12	2008-09-01
GB/T 14144-2009	硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 6621-2009	硅片表面平整度测试方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24580-2009	重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24577-2009	热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 6618-2009	硅片厚度和总厚度变化测试方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 4061-2009	硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 13387-2009	硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24575-2009	硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 1553-2009	硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 6616-2009	半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法非接触涡流法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24581-2009	低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 14264-2009	半导体材料术语	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24582-2009	酸浸取-电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质	已废止	2009-10-30	2010-06-01