H82 元素半导体材料

收录 90 项

左右滑动表格，可查看日期并点击排序

标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 26072-2010	太阳能电池用锗单晶	现行	2011-01-10	2011-10-01
DB36/ 652-2012	太阳能级多晶硅单位产品能源消耗限额	已废止	2012-02-10	2012-05-01
GB/T 29055-2012	太阳电池用多晶硅片	已废止	2012-12-31	2013-10-01
GB/T 29054-2012	太阳能级铸造多晶硅块	已废止	2012-12-31	2013-10-01
GB/T 29504-2013	300mm 硅单晶	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29508-2013	300mm 硅单晶切割片和磨削片	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29506-2013	300mm 硅单晶抛光片	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29850-2013	光伏电池用硅材料补偿度测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 29852-2013	光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 29851-2013	光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 29849-2013	光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 30861-2014	太阳能电池用锗衬底片	现行	2014-07-24	2015-04-01
YS/T 989-2014	锗粒	现行	2014-10-14	2015-04-01
GB/T 12963-2014	电子级多晶硅	已废止	2014-12-31	2015-09-01
YS/T 1061-2015	改良西门子法多晶硅用硅芯	已废止	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11495-2015	硅中间隙氧的转换因子指南	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11493-2015	硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法	已废止	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11494-2015	硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11491-2015	短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11498-2015	重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法	现行	2015-04-30	2015-10-01