H82 元素半导体材料

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
SJ/T 10625-1995	锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法	现行	1995-04-22	1995-10-01
SJ/T 10627-1995	通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法	现行	1995-04-22	1995-10-01
GB/T 6620-2009	硅片翘曲度非接触式测试方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 12963-2009	硅多晶	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 26072-2010	太阳能电池用锗单晶	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 29504-2013	300mm 硅单晶	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29508-2013	300mm 硅单晶切割片和磨削片	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29506-2013	300mm 硅单晶抛光片	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29850-2013	光伏电池用硅材料补偿度测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 29852-2013	光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 29851-2013	光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 29849-2013	光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 30861-2014	太阳能电池用锗衬底片	现行	2014-07-24	2015-04-01
YS/T 989-2014	锗粒	现行	2014-10-14	2015-04-01
SJ/T 11495-2015	硅中间隙氧的转换因子指南	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11494-2015	硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11491-2015	短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11498-2015	重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
GB/T 31854-2015	光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法	现行	2015-07-03	2016-03-01
SJ/T 11552-2015	以布鲁斯特角入射P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量	现行	2015-10-10	2016-04-01