H82 元素半导体材料

收录 90 项

左右滑动表格，可查看日期并点击排序

标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 35307-2017	流化床法颗粒硅	已废止	2017-12-29	2018-07-01
GB/T 35310-2017	200mm硅外延片	现行	2017-12-29	2018-07-01
GB/T 25074-2017	太阳能级多晶硅	已废止	2017-11-01	2018-05-01
YS/T 1167-2016	硅单晶腐蚀片	现行	2016-07-11	2017-01-01
YS/T 724-2016	多晶硅用硅粉	现行	2016-07-11	2017-01-01
GB/T 32651-2016	采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法	现行	2016-04-25	2016-11-01
GB/T 32573-2016	硅粉总碳含量的测定感应炉内燃烧后红外吸收法	现行	2016-02-24	2016-11-01
GB/T 12962-2015	硅单晶	现行	2015-12-10	2017-01-01
SJ/T 11552-2015	以布鲁斯特角入射P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量	现行	2015-10-10	2016-04-01
GB/T 31854-2015	光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法	现行	2015-07-03	2016-03-01
YS/T 1061-2015	改良西门子法多晶硅用硅芯	已废止	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11495-2015	硅中间隙氧的转换因子指南	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11493-2015	硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法	已废止	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11494-2015	硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11491-2015	短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11498-2015	重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
GB/T 12963-2014	电子级多晶硅	已废止	2014-12-31	2015-09-01
YS/T 989-2014	锗粒	现行	2014-10-14	2015-04-01
GB/T 30861-2014	太阳能电池用锗衬底片	现行	2014-07-24	2015-04-01
GB/T 29850-2013	光伏电池用硅材料补偿度测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15