H82 元素半导体材料

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 29852-2013	光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 29851-2013	光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 29849-2013	光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 29504-2013	300mm 硅单晶	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29508-2013	300mm 硅单晶切割片和磨削片	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29506-2013	300mm 硅单晶抛光片	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29055-2012	太阳电池用多晶硅片	已废止	2012-12-31	2013-10-01
GB/T 29054-2012	太阳能级铸造多晶硅块	已废止	2012-12-31	2013-10-01
DB36/ 652-2012	太阳能级多晶硅单位产品能源消耗限额	已废止	2012-02-10	2012-05-01
GB/T 26072-2010	太阳能电池用锗单晶	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 25074-2010	太阳能级多晶硅	已废止	2010-09-02	2011-04-01
GB/T 14140-2009	硅片直径测量方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 6620-2009	硅片翘曲度非接触式测试方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 12963-2009	硅多晶	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 11071-2006	区熔锗锭	已废止	2006-07-18	2006-11-01
GB/T 11069-2006	高纯二氧化锗	已废止	2006-07-18	2006-11-01
GB/T 11070-2006	还原锗锭	已废止	2006-07-18	2006-11-01
GB/T 12962-2005	硅单晶	已废止	2005-09-19	2006-04-01
GB/T 12965-2005	硅单晶切割片和研磨片	已废止	2005-09-19	2006-04-01
GB/T 12964-2003	硅单晶抛光片	已废止	2003-06-16	2004-01-01