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H80 半金属与半导体材料综合
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H83 化合物半导体材料
H83 化合物半导体材料
H83 化合物半导体材料
收录
69
项
全部状态
现行
即将实施
废止
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标准号
标准名称
状态
发布日期
↕
实施日期
↕
GB/T 20230-2022
磷化铟单晶
现行
2022-03-09
2022-10-01
GB/T 20229-2022
磷化镓单晶
现行
2022-03-09
2022-10-01
T/ZZB 2332-2021
发光二极管用蓝宝石衬底抛光片
现行
2021-08-30
2021-09-30
GB/T 20228-2021
砷化镓单晶
现行
2021-05-21
2021-12-01
GB/T 11094-2020
水平法砷化镓单晶及切割片
现行
2020-09-29
2021-08-01
GB/T 37053-2018
氮化镓外延片及衬底片通用规范
现行
2018-12-28
2019-07-01
GB/T 36706-2018
磷化铟多晶
现行
2018-09-17
2019-06-01
GB/T 35308-2017
太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片
现行
2017-12-29
2018-07-01
GB/T 35305-2017
太阳能电池用砷化镓单晶抛光片
已废止
2017-12-29
2018-07-01
YS/T 13-2015
高纯四氯化锗
现行
2015-04-30
2015-10-01
SJ/T 11488-2015
半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
现行
2015-04-30
2015-10-01
SJ/T 11489-2015
低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
现行
2015-04-30
2015-10-01
SJ/T 11490-2015
低位错密度砷化镓拋光片蚀坑密度的测量方法
现行
2015-04-30
2015-10-01
SJ/T 11487-2015
半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
现行
2015-04-30
2015-10-01
SJ/T 11492-2015
光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
现行
2015-04-30
2015-10-01
SJ/T 11500-2015
碳化硅单晶晶向的测试方法
现行
2015-04-30
2015-10-01
SJ/T 11499-2015
碳化硅单晶电学性能的测试方法
已废止
2015-04-30
2015-10-01
SJ/T 11497-2015
砷化镓晶片热稳定性的试验方法
现行
2015-04-30
2015-10-01
SJ/T 11496-2015
红外吸收法测量砷化镓中硼含量
现行
2015-04-30
2015-10-01
SJ/T 11505-2015
蓝宝石单晶抛光片规范
现行
2015-04-30
2015-10-01
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