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29.045 半导体材料

收录 84 项
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 24578-2009硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法已废止2009-10-302010-06-01
GB/T 14139-2009硅外延片已废止2009-10-302010-06-01
GB/T 1558-2009硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法已废止2009-10-302010-06-01
GB/T 1555-2009半导体单晶晶向测定方法已废止2009-10-302010-06-01
GB/T 1551-2009硅单晶电阻率测定方法已废止2009-10-302010-06-01
GB/T 14146-2009硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法已废止2009-10-302010-06-01
SJ/T 11396-2009氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片已废止2009-11-172010-01-01
YS/T 724-2009硅粉已废止2009-12-042010-06-01
GB/T 25075-2010太阳能电池用砷化镓单晶已废止2010-09-022011-04-01
GB/T 25076-2010太阳电池用硅单晶已废止2010-09-022011-04-01
GB/T 25074-2010太阳能级多晶硅已废止2010-09-022011-04-01
GB/T 14847-2010重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法已废止2011-01-102011-10-01
GB/T 26068-2010硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法已废止2011-01-102011-10-01
GB/T 26071-2010太阳能电池用硅单晶切割片已废止2011-01-102011-10-01
GB/T 26069-2010硅退火片规范已废止2011-01-102011-10-01
DB35/T 1146-2011硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法已废止2011-04-102011-07-10
GB/T 29057-2012用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程已废止2012-12-312013-10-01
GB/T 29055-2012太阳电池用多晶硅片已废止2012-12-312013-10-01
GB/T 29054-2012太阳能级铸造多晶硅块已废止2012-12-312013-10-01
DB65/T 3485-2013太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法已废止2013-09-202013-12-01

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