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31.200 集成电路、微电子学
31.200 集成电路、微电子学
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449
项
全部状态
现行
即将实施
废止
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标准号
标准名称
状态
发布日期
↕
实施日期
↕
GB/T 42838-2023
半导体集成电路 霍尔电路测试方法
现行
2023-08-06
2023-12-01
GB/T 42837-2023
微波半导体集成电路 放大器
现行
2023-08-06
2023-12-01
GB/T 42836-2023
微波半导体集成电路 混频器
现行
2023-08-06
2023-12-01
GB/T 42895-2023
微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法
现行
2023-08-06
2023-12-01
GB/T 42744-2023
微波电路 电调衰减器测试方法
现行
2023-08-06
2024-03-01
GB/T 42896-2023
微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法
现行
2023-08-06
2023-12-01
GB/T 43027-2023
高压电源变换器模块测试方法
现行
2023-09-07
2024-01-01
GB/T 43040-2023
半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法
现行
2023-09-07
2024-04-01
GB/T 42972-2023
微波电路 检波器测试方法
现行
2023-09-07
2024-01-01
GB/T 43061-2023
半导体集成电路 PWM控制器测试方法
现行
2023-09-07
2024-04-01
GB/T 42968.1-2023
集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分:通用条件和定义
现行
2023-09-07
2024-01-01
GB/T 42970-2023
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
现行
2023-09-07
2024-01-01
GB/T 43035-2023
半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求
现行
2023-09-07
2023-09-07
GB/T 42969-2023
元器件位移损伤试验方法
现行
2023-09-07
2024-01-01
GB/T 42975-2023
半导体集成电路 驱动器测试方法
现行
2023-09-07
2024-01-01
GB/T 43041-2023
混合集成电路 直流/直流(DC/DC)变换器
现行
2023-09-07
2024-01-01
GB/T 43063-2023
集成电路 CMOS图像传感器测试方法
现行
2023-09-07
2024-01-01
GB/T 42974-2023
半导体集成电路 快闪存储器(FLASH)
现行
2023-09-07
2024-01-01
GB/T 42973-2023
半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器
现行
2023-09-07
2024-01-01
GB/T 42968.8-2023
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法
现行
2023-09-07
2024-01-01
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