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31 电子学

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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 13739-2011激光光束宽度、发散角的测试方法以及横模的鉴别方法现行2011-12-302012-05-01
GB/T 27662-2011激光光束指向和位置稳定性测试方法现行2011-12-302012-05-01
GB/T 10320-2011激光设备和设施的电气安全现行2011-12-302012-05-01
GB/T 5966-2011电子设备用固定电容器 第8部分:分规范 1类瓷介固定电容器现行2011-12-302012-07-01
GB/T 11490-2011彩色显像管管基尺寸现行2011-12-302012-07-01
GB/T 13170-2011反射式电视测试图现行2011-12-302012-07-01
GB/T 27666-2011制造用激光器光束质量的评价和测试方法现行2011-12-302012-05-01
GB/T 15157.12-2011频率低于3MHz的印制板连接器 第12部分:集成电路插座的尺寸、一般要求和试验方法详细规范现行2011-12-302012-07-01
GB/T 4799-2011激光器型号命名方法现行2011-12-302012-07-01
GB/T 13584-2011红外探测器参数测试方法现行2011-12-302012-07-01
GB/T 10191-2011电子设备用固定电容器 第16-1部分:空白详细规范 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E和EZ现行2011-12-302012-07-01
GB/T 7332-2011电子设备用固定电容器 第2部分:分规范 金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器现行2011-12-302012-07-01
GB/T 5967-2011电子设备用固定电容器 第8-1部分:空白详细规范 1类瓷介固定电容器 评定水平 EZ现行2011-12-302012-07-01
GB/T 27661-2011激光棒单程损耗系数的测量方法现行2011-12-302012-05-01
GB/T 28277-2012硅基MEMS制造技术 微键合区剪切和拉压强度检测方法现行2012-05-112012-12-01
GB/T 28276-2012硅基MEMS制造技术 体硅溶片工艺规范现行2012-05-112012-12-01
GB/T 28275-2012硅基MEMS制造技术 氢氧化钾腐蚀工艺规范现行2012-05-112012-12-01
GB/T 28274-2012硅基MEMS制造技术 版图设计基本规则现行2012-05-112012-12-01
GB/T 28571.1-2012电信设备机柜 第1部分:总规范现行2012-06-292012-11-01
GB/T 28568-2012电工电子设备机柜 安全设计要求现行2012-06-292012-11-01

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