H80 半金属与半导体材料综合

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 14847-2010	重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26066-2010	硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26068-2010	硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26071-2010	太阳能电池用硅单晶切割片	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26069-2010	硅退火片规范	已废止	2011-01-10	2011-10-01
DB35/T 1146-2011	硅材料中杂质元素含量测定辉光放电质谱法	已废止	2011-04-10	2011-07-10
YS/T 838-2012	碲化镉	现行	2012-11-07	2013-03-01
GB/T 29057-2012	用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程	已废止	2012-12-31	2013-10-01
GB/T 29505-2013	硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29507-2013	硅片平整度、厚度及总厚度变化测试自动非接触扫描法	现行	2013-05-09	2014-02-01
DB65/T 3485-2013	太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法	已废止	2013-09-20	2013-12-01
DB65/T 3486-2013	太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法	已废止	2013-10-20	2013-12-01
GB/T 30110-2013	空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法	现行	2013-12-17	2014-05-15
GB/T 30453-2013	硅材料原生缺陷图谱	现行	2013-12-31	2014-10-01
GB/T 14863-2013	用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法	已废止	2013-12-31	2014-08-15
YS/T 985-2014	硅抛光回收片	现行	2014-10-14	2015-04-01
YS/T 986-2014	晶片正面系列字母数字标志规范	现行	2014-10-14	2015-04-01
GB/T 13389-2014	掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程	现行	2014-12-31	2015-09-01
YS/T 28-2015	硅片包装	已废止	2015-04-30	2015-10-01
GB/T 32279-2015	硅片订货单格式输入规范	现行	2015-12-10	2017-01-01