H80 半金属与半导体材料综合

收录 28 项

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
YS/T 23-1992	硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法	已废止	1992-03-09	1993-01-01
YS/T 24-1992	外延钉缺陷的检验方法	已废止	1992-03-09	1993-01-01
GB/T 14264-1993	半导体材料术语	已废止	1993-03-20	1993-12-01
GB/T 14844-1993	半导体材料牌号表示方法	已废止	1993-12-30	1994-09-01
YS/T 679-2008	非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法	已废止	2008-03-12	2008-09-01
GB/T 1553-2009	硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 6616-2009	半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法非接触涡流法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24581-2009	低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 14264-2009	半导体材料术语	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24582-2009	酸浸取-电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24578-2009	硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 14139-2009	硅外延片	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 1558-2009	硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 1555-2009	半导体单晶晶向测定方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 1551-2009	硅单晶电阻率测定方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 14146-2009	硅外延层载流子浓度测定汞探针电容-电压法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 25075-2010	太阳能电池用砷化镓单晶	已废止	2010-09-02	2011-04-01
GB/T 25076-2010	太阳电池用硅单晶	已废止	2010-09-02	2011-04-01
GB/T 14847-2010	重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26068-2010	硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法	已废止	2011-01-10	2011-10-01