H83 化合物半导体材料

收录 51 项

左右滑动表格，可查看日期并点击排序

标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
T/ZZB 2332-2021	发光二极管用蓝宝石衬底抛光片	现行	2021-08-30	2021-09-30
GB/T 20228-2021	砷化镓单晶	现行	2021-05-21	2021-12-01
GB/T 11094-2020	水平法砷化镓单晶及切割片	现行	2020-09-29	2021-08-01
GB/T 37053-2018	氮化镓外延片及衬底片通用规范	现行	2018-12-28	2019-07-01
GB/T 36706-2018	磷化铟多晶	现行	2018-09-17	2019-06-01
GB/T 35308-2017	太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片	现行	2017-12-29	2018-07-01
YS/T 13-2015	高纯四氯化锗	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11488-2015	半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11489-2015	低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11490-2015	低位错密度砷化镓拋光片蚀坑密度的测量方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11487-2015	半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11492-2015	光致发光法测定磷镓砷晶片的组分	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11500-2015	碳化硅单晶晶向的测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11497-2015	砷化镓晶片热稳定性的试验方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11496-2015	红外吸收法测量砷化镓中硼含量	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11505-2015	蓝宝石单晶抛光片规范	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11504-2015	碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11503-2015	碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11501-2015	碳化硅单晶晶型的测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
YS/T 988-2014	羧乙基锗倍半氧化物	现行	2014-10-14	2015-04-01