L56 半导体集成电路

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 35004-2018	数字集成电路输入/输出电气接口模型规范	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35007-2018	半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 4377-2018	半导体集成电路电压调整器测试方法	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35009-2018	串行NAND型快闪存储器接口规范	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35003-2018	非易失性存储器耐久和数据保持试验方法	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35008-2018	串行NOR型快闪存储器接口规范	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35006-2018	半导体集成电路电平转换器测试方法	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 36474-2018	半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法	现行	2018-06-07	2019-01-01
GB/T 36477-2018	半导体集成电路快闪存储器测试方法	现行	2018-06-07	2019-01-01
T/CESA 1119-2020	人工智能芯片面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法	现行	2020-10-30	2020-11-10
T/CESA 1120-2020	人工智能芯片面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法	现行	2020-10-30	2020-11-10
T/CESA 1121-2020	人工智能芯片面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法	现行	2020-10-30	2020-11-10
GB/T 39842-2021	集成电路(IC)卡封装框架	现行	2021-03-09	2021-07-01
YD/T 3944-2021	人工智能芯片基准测试评估方法	现行	2021-08-21	2021-11-01
T/CIITA 102-2021	PKS体系中央处理器参考板	现行	2021-12-20	2022-02-01
T/CIE 126-2021	磁随机存储芯片测试方法	现行	2021-12-23	2022-02-10
T/CIE 133-2022	磁随机存储器件数据保持时间测试方法	现行	2022-08-10	2022-08-10
T/CIE 134-2022	磁随机存储芯片数据保持时间测试方法	现行	2022-08-10	2022-08-10
SJ/T 11846-2022	电压调整器低频噪声参数测试方法	现行	2022-10-20	2023-01-01
T/SICA 003-2022	基于RFID传输和存储技术的双频多接口温湿度检测标签芯片技术规范	现行	2022-10-31	2022-11-30