29.045 半导体材料

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
DB65/T 3486-2013	太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法	已废止	2013-10-20	2013-12-01
GB/T 14863-2013	用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法	已废止	2013-12-31	2014-08-15
GB/T 30856-2014	LED外延芯片用砷化镓衬底	已废止	2014-07-24	2015-04-01
GB/T 30866-2014	碳化硅单晶片直径测试方法	已废止	2014-07-24	2015-02-01
GB/T 30858-2014	蓝宝石单晶衬底抛光片	已废止	2014-07-24	2015-04-01
GB/T 30868-2014	碳化硅单晶片微管密度的测定化学腐蚀法	已废止	2014-07-24	2015-02-01
GB/T 30867-2014	碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法	已废止	2014-07-24	2015-02-01
GB/T 2881-2014	工业硅	已废止	2014-12-05	2015-08-01
GB/T 31092-2014	蓝宝石单晶晶锭	已废止	2014-12-22	2015-09-01
GB/T 30656-2014	碳化硅单晶抛光片	已废止	2014-12-31	2015-09-01
GB/T 12963-2014	电子级多晶硅	已废止	2014-12-31	2015-09-01
GB/T 30652-2014	硅外延用三氯氢硅	已废止	2014-12-31	2015-09-01
YS/T 1061-2015	改良西门子法多晶硅用硅芯	已废止	2015-04-30	2015-10-01
YS/T 543-2015	半导体键合用铝-硅细丝	已废止	2015-04-30	2015-10-01
YS/T 28-2015	硅片包装	已废止	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11493-2015	硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法	已废止	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11499-2015	碳化硅单晶电学性能的测试方法	已废止	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11502-2015	碳化硅单晶抛光片规范	已废止	2015-04-30	2015-10-01
GB/T 25074-2017	太阳能级多晶硅	已废止	2017-11-01	2018-05-01
GB/T 35305-2017	太阳能电池用砷化镓单晶抛光片	已废止	2017-12-29	2018-07-01