31.200 集成电路、微电子学

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
SJ/Z 11361-2006	集成电路IP核保护大纲	现行	2006-09-26	2006-12-01
SJ/Z 11354-2006	集成电路模拟/混合信号IP核规范	现行	2006-09-26	2006-12-01
SJ/Z 11355-2006	集成电路IP/SoC功能验证规范	现行	2006-09-26	2006-12-01
SJ/Z 11360-2006	集成电路IP核信号完整性规范	现行	2006-09-26	2006-12-01
GB/T 20515-2006	半导体器件集成电路第5部分：半定制集成电路	现行	2006-10-10	2007-02-01
GB/T 17574.11-2006	半导体器件集成电路第2-11部分：数字集成电路单电源集成电路电可擦可编程只读存储器空白详细规范	现行	2006-12-05	2007-05-01
GB/T 17574.9-2006	半导体器件集成电路第2-9部分：数字集成电路紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范	现行	2006-12-05	2007-05-01
GB/T 17574.20-2006	半导体器件集成电路第2-20部分：数字集成电路低压集成电路族规范	现行	2006-12-05	2007-05-01
GB/T 26112-2010	微机电系统(MEMS)技术微机械量评定总则	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26113-2010	微机电系统(MEMS)技术微几何量评定总则	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 28277-2012	硅基MEMS制造技术微键合区剪切和拉压强度检测方法	现行	2012-05-11	2012-12-01
GB/T 28276-2012	硅基MEMS制造技术体硅溶片工艺规范	现行	2012-05-11	2012-12-01
GB/T 28275-2012	硅基MEMS制造技术氢氧化钾腐蚀工艺规范	现行	2012-05-11	2012-12-01
GB/T 28274-2012	硅基MEMS制造技术版图设计基本规则	现行	2012-05-11	2012-12-01
GB 50809-2012	硅集成电路芯片工厂设计规范	现行	2012-10-11	2012-12-01
GB/T 20296-2012	集成电路记忆法与符号	现行	2012-12-31	2013-07-01
GB/T 15877-2013	半导体集成电路蚀刻型双列封装引线框架规范	现行	2013-12-31	2014-08-15
GA/T 1171-2014	芯片相似性比对检验方法	现行	2014-07-09	2014-07-09
SJ/T 11477-2014	IP核交付项规范	现行	2014-10-14	2015-04-01
SJ/T 11478-2014	IP核质量评测	现行	2014-10-14	2015-04-01