31.200 集成电路、微电子学

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 43061-2023	半导体集成电路 PWM控制器测试方法	现行	2023-09-07	2024-04-01
GB/T 42968.1-2023	集成电路电磁抗扰度测量第1部分：通用条件和定义	现行	2023-09-07	2024-01-01
GB/T 42970-2023	半导体集成电路视频编解码电路测试方法	现行	2023-09-07	2024-01-01
GB/T 43035-2023	半导体器件集成电路第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇：内部目检要求	现行	2023-09-07	2023-09-07
GB/T 42969-2023	元器件位移损伤试验方法	现行	2023-09-07	2024-01-01
GB/T 42975-2023	半导体集成电路驱动器测试方法	现行	2023-09-07	2024-01-01
GB/T 43041-2023	混合集成电路直流/直流（DC/DC）变换器	现行	2023-09-07	2024-01-01
GB/T 43063-2023	集成电路 CMOS图像传感器测试方法	现行	2023-09-07	2024-01-01
GB/T 42974-2023	半导体集成电路快闪存储器（FLASH）	现行	2023-09-07	2024-01-01
GB/T 42973-2023	半导体集成电路数字模拟（DA）转换器	现行	2023-09-07	2024-01-01
GB/T 42968.8-2023	集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法	现行	2023-09-07	2024-01-01
GB/T 20870.10-2023	半导体器件第16-10部分：单片微波集成电路技术可接收程序	现行	2023-09-07	2024-01-01
GB/T 43034.3-2023	集成电路脉冲抗扰度测量第3部分：非同步瞬态注入法	现行	2023-09-07	2024-01-01
GB/T 42897-2023	微机电系统（MEMS）技术硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法	现行	2023-08-06	2023-12-01
GB/T 42839-2023	半导体集成电路模拟数字（AD）转换器	现行	2023-08-06	2023-12-01
GB/T 42835-2023	半导体集成电路片上系统（SoC）	现行	2023-08-06	2023-12-01
GB/T 42848-2023	半导体集成电路直接数字频率合成器测试方法	现行	2023-08-06	2023-12-01
GB/T 42709.19-2023	半导体器件微电子机械器件第19部分：电子罗盘	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 42838-2023	半导体集成电路霍尔电路测试方法	现行	2023-08-06	2023-12-01
GB/T 42837-2023	微波半导体集成电路放大器	现行	2023-08-06	2023-12-01