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31 电子学

收录 4022 项

下级分类

31.020 电子元器件综合

31.030 电子技术专用材料

31.040 电阻器

31.040.01 电阻器综合

31.040.10 固定电阻器

31.040.20 电位器、可变电阻器

31.040.30 热敏电阻器

31.040.99 其他电阻器

31.060 电容器

31.060.01 电容器综合

31.060.10 固定电容器

31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器

31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器

31.060.40 钽电解电容器

31.060.50 铝电解电容器

31.060.60 可变电容器

31.060.70 电力电容器

31.060.99 其他电容器

31.080 半导体分立器件

31.080.01 半导体分立器件综合

31.080.10 二极管

31.080.20 晶体闸流管

31.080.30 三极管

31.080.99 其他半导体分立器件

31.100 电子管

31.120 电子显示器件

31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件

31.160 滤波器

31.180 印制电路和印制电路板

31.190 电子元器件组件

31.200 集成电路、微电子学

31.220 电子电信设备用机电元件

31.220.01 机电元件综合

31.220.10 插头和插座装置、连接器

31.220.20 开关

31.220.99 其他机电零部件

31.240 电子设备用机械构件

31.260 光电子学、激光设备

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 29847-2013	印制板用铜箔试验方法	已废止	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 3789-2013	发射管电性能测试方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 29848-2013	光伏组件封装用乙烯-醋酸乙烯酯共聚物（EVA）胶膜	已废止	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 14620-2013	薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 14619-2013	厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 17444-2013	红外焦平面阵列参数测试方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
DB35/T 1369-2013	LED显示屏现场测量方法	已废止	2013-12-04	2014-03-01
DB35/T 1373-2013	车载LED显示屏通用技术规范	已废止	2013-12-04	2014-03-01
DB35/T 1370-2013	发光二极管芯片点测方法	已废止	2013-12-04	2014-03-01
DB52/T 862-2013	压电陶瓷雾化元件详细规范	已废止	2013-12-06	2014-02-01
DB52/T 860-2013	5KP 系列硅瞬态电压抑制二极管详细规范	已废止	2013-12-06	2014-02-01
DB52/T 861-2013	2CB003 型硅雪崩整流二极管详细规范	已废止	2013-12-06	2014-02-01
GB/T 15872-2013	半导体设备电源接口	现行	2013-12-17	2014-05-15
GB/T 30117.2-2013	灯和灯系统的光生物安全第2部分：非激光光辐射安全相关的制造要求指南	已废止	2013-12-17	2014-07-15
GB/T 7247.13-2013	激光产品的安全第13部分：激光产品的分类测量	已废止	2013-12-17	2014-07-15
GB/T 30091-2013	薄膜键盘技术条件	现行	2013-12-17	2014-05-01
GB/T 787-2013	收讯放大管机械尺寸	现行	2013-12-17	2014-05-15
GB/T 7257-2013	氦氖激光器参数测量方法	现行	2013-12-17	2014-05-15
GB/T 20871.61-2013	有机发光二极管显示器第61部分：光学和光电参数测试方法	已废止	2013-12-17	2014-05-15
GB/T 30118-2013	声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法	现行	2013-12-17	2014-05-15