标准查询管家 · 标准信息查询与管理返回首页

31 电子学

收录 4022 项

下级分类

31.020 电子元器件综合

31.030 电子技术专用材料

31.040 电阻器

31.040.01 电阻器综合

31.040.10 固定电阻器

31.040.20 电位器、可变电阻器

31.040.30 热敏电阻器

31.040.99 其他电阻器

31.060 电容器

31.060.01 电容器综合

31.060.10 固定电容器

31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器

31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器

31.060.40 钽电解电容器

31.060.50 铝电解电容器

31.060.60 可变电容器

31.060.70 电力电容器

31.060.99 其他电容器

31.080 半导体分立器件

31.080.01 半导体分立器件综合

31.080.10 二极管

31.080.20 晶体闸流管

31.080.30 三极管

31.080.99 其他半导体分立器件

31.100 电子管

31.120 电子显示器件

31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件

31.160 滤波器

31.180 印制电路和印制电路板

31.190 电子元器件组件

31.200 集成电路、微电子学

31.220 电子电信设备用机电元件

31.220.01 机电元件综合

31.220.10 插头和插座装置、连接器

31.220.20 开关

31.220.99 其他机电零部件

31.240 电子设备用机械构件

31.260 光电子学、激光设备

左右滑动表格，可查看日期并点击排序

标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
SJ/T 11141-2012	LED显示屏通用规范	已废止	2012-05-24	2012-06-01
GB/T 28277-2012	硅基MEMS制造技术微键合区剪切和拉压强度检测方法	现行	2012-05-11	2012-12-01
GB/T 28276-2012	硅基MEMS制造技术体硅溶片工艺规范	现行	2012-05-11	2012-12-01
GB/T 28275-2012	硅基MEMS制造技术氢氧化钾腐蚀工艺规范	现行	2012-05-11	2012-12-01
GB/T 28274-2012	硅基MEMS制造技术版图设计基本规则	现行	2012-05-11	2012-12-01
GB/T 13863-2011	激光辐射功率和功率不稳定度测试方法	现行	2011-12-30	2012-05-01
GB/T 28162.3-2011	自动操作用元器件的包装第3部分：表面安装元器件在连续带上的包装	现行	2011-12-30	2012-07-01
GB/T 5968-2011	电子设备用固定电容器第9部分：分规范 2类瓷介固定电容器	现行	2011-12-30	2012-07-01
GB 27701-2011	阴极射线管机械安全	已废止	2011-12-30	2012-11-01
GB/T 13739-2011	激光光束宽度、发散角的测试方法以及横模的鉴别方法	现行	2011-12-30	2012-05-01
GB/T 27700.2-2011	有质量评定的声表面波(SAW)滤波器第2部分：使用指南	已废止	2011-12-30	2012-05-01
GB/T 28159-2011	电子级磷酸	已废止	2011-12-30	2012-07-01
GB/T 27662-2011	激光光束指向和位置稳定性测试方法	现行	2011-12-30	2012-05-01
GB/T 10320-2011	激光设备和设施的电气安全	现行	2011-12-30	2012-05-01
GB/T 5966-2011	电子设备用固定电容器第8部分：分规范 1类瓷介固定电容器	现行	2011-12-30	2012-07-01
GB/T 11490-2011	彩色显像管管基尺寸	现行	2011-12-30	2012-07-01
GB/T 13170-2011	反射式电视测试图	现行	2011-12-30	2012-07-01
GB/T 27700.1-2011	有质量评定的声表面波（SAW）滤波器第1部分：总规范	已废止	2011-12-30	2012-05-01
GB/T 27666-2011	制造用激光器光束质量的评价和测试方法	现行	2011-12-30	2012-05-01
GB/T 15157.12-2011	频率低于3MHz的印制板连接器第12部分：集成电路插座的尺寸、一般要求和试验方法详细规范	现行	2011-12-30	2012-07-01