H80 半金属与半导体材料综合

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
YS/T 28-2015	硅片包装	已废止	2015-04-30	2015-10-01
GB/T 14863-2013	用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法	已废止	2013-12-31	2014-08-15
DB65/T 3486-2013	太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法	已废止	2013-10-20	2013-12-01
DB65/T 3485-2013	太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法	已废止	2013-09-20	2013-12-01
GB/T 29057-2012	用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程	已废止	2012-12-31	2013-10-01
DB35/T 1146-2011	硅材料中杂质元素含量测定辉光放电质谱法	已废止	2011-04-10	2011-07-10
GB/T 14847-2010	重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26068-2010	硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26071-2010	太阳能电池用硅单晶切割片	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26069-2010	硅退火片规范	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 25075-2010	太阳能电池用砷化镓单晶	已废止	2010-09-02	2011-04-01
GB/T 25076-2010	太阳电池用硅单晶	已废止	2010-09-02	2011-04-01
GB/T 1553-2009	硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 6616-2009	半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法非接触涡流法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24581-2009	低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 14264-2009	半导体材料术语	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24582-2009	酸浸取-电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24578-2009	硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 14139-2009	硅外延片	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 1558-2009	硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01