29.045 半导体材料

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 6620-2009	硅片翘曲度非接触式测试方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 6619-2009	硅片弯曲度测试方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24576-2009	高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 12963-2009	硅多晶	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 4058-2009	硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24574-2009	硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 26065-2010	硅单晶抛光试验片规范	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26067-2010	硅片切口尺寸测试方法	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26066-2010	硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26072-2010	太阳能电池用锗单晶	现行	2011-01-10	2011-10-01
YS/T 43-2011	高纯砷	现行	2011-12-20	2012-07-01
YS/T 792-2012	单晶炉用碳_碳复合材料坩埚	现行	2012-11-07	2013-03-01
YS/T 838-2012	碲化镉	现行	2012-11-07	2013-03-01
GB/T 29504-2013	300mm 硅单晶	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29505-2013	硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29508-2013	300mm 硅单晶切割片和磨削片	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29506-2013	300mm 硅单晶抛光片	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29507-2013	硅片平整度、厚度及总厚度变化测试自动非接触扫描法	现行	2013-05-09	2014-02-01
GB/T 29850-2013	光伏电池用硅材料补偿度测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 29852-2013	光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15