29.045 半导体材料

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 1558-2009	硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 13388-2009	硅片参考面结晶学取向X射线测试方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 1555-2009	半导体单晶晶向测定方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 6617-2009	硅片电阻率测定扩展电阻探针法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 6620-2009	硅片翘曲度非接触式测试方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 6619-2009	硅片弯曲度测试方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24576-2009	高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 12963-2009	硅多晶	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 4058-2009	硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 1551-2009	硅单晶电阻率测定方法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24574-2009	硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 14146-2009	硅外延层载流子浓度测定汞探针电容-电压法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
SJ/T 11396-2009	氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片	已废止	2009-11-17	2010-01-01
YS/T 724-2009	硅粉	已废止	2009-12-04	2010-06-01
GB/T 25075-2010	太阳能电池用砷化镓单晶	已废止	2010-09-02	2011-04-01
GB/T 25076-2010	太阳电池用硅单晶	已废止	2010-09-02	2011-04-01
GB/T 25074-2010	太阳能级多晶硅	已废止	2010-09-02	2011-04-01
GB/T 26065-2010	硅单晶抛光试验片规范	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26067-2010	硅片切口尺寸测试方法	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 14847-2010	重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法	已废止	2011-01-10	2011-10-01