H80 半金属与半导体材料综合

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
YS/T 838-2012	碲化镉	现行	2012-11-07	2013-03-01
DB35/T 1146-2011	硅材料中杂质元素含量测定辉光放电质谱法	已废止	2011-04-10	2011-07-10
GB/T 26065-2010	硅单晶抛光试验片规范	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26067-2010	硅片切口尺寸测试方法	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 14847-2010	重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26066-2010	硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26068-2010	硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26071-2010	太阳能电池用硅单晶切割片	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26069-2010	硅退火片规范	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 25075-2010	太阳能电池用砷化镓单晶	已废止	2010-09-02	2011-04-01
GB/T 25076-2010	太阳电池用硅单晶	已废止	2010-09-02	2011-04-01
GB/T 14144-2009	硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 6621-2009	硅片表面平整度测试方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24580-2009	重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24577-2009	热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 6618-2009	硅片厚度和总厚度变化测试方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 4061-2009	硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 13387-2009	硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24575-2009	硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 1553-2009	硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法	已废止	2009-10-30	2010-06-01