H83 化合物半导体材料

收录 69 项

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
SJ/T 11470-2014	发光二极管外延片	现行	2014-10-14	2015-04-01
SJ/T 11471-2014	发光二极管外延片测试方法	现行	2014-10-14	2015-04-01
GB/T 31092-2014	蓝宝石单晶晶锭	已废止	2014-12-22	2015-09-01
GB/T 30656-2014	碳化硅单晶抛光片	已废止	2014-12-31	2015-09-01
GB/T 30652-2014	硅外延用三氯氢硅	已废止	2014-12-31	2015-09-01
YS/T 13-2015	高纯四氯化锗	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11488-2015	半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11489-2015	低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11490-2015	低位错密度砷化镓拋光片蚀坑密度的测量方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11487-2015	半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11492-2015	光致发光法测定磷镓砷晶片的组分	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11500-2015	碳化硅单晶晶向的测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11499-2015	碳化硅单晶电学性能的测试方法	已废止	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11497-2015	砷化镓晶片热稳定性的试验方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11496-2015	红外吸收法测量砷化镓中硼含量	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11505-2015	蓝宝石单晶抛光片规范	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11504-2015	碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11503-2015	碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11502-2015	碳化硅单晶抛光片规范	已废止	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11501-2015	碳化硅单晶晶型的测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01