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29 电气工程

收录 5000 项
下级分类
29.020 电气工程综合
29.030 磁性材料
29.035 绝缘材料
29.035.01 绝缘材料综合
29.035.10 纸和纸板绝缘材料
29.035.20 塑料和橡胶绝缘材料
29.035.30 陶瓷和玻璃绝缘材料
29.035.50 云母基材料
29.035.99 其他绝缘材料
29.035.60 漆布
29.040 绝缘流体
29.040.01 绝缘流体综合
29.040.10 绝缘油
29.040.99 其他绝缘流体
29.040.20 绝缘气体
29.045 半导体材料
29.050 导体材料
29.060 电线和电缆
29.060.01 电线和电缆综合
29.060.10 电线
29.060.20 电缆
29.080 绝缘
29.080.01 电绝缘综合
29.080.10 绝缘子
29.080.20 套管
29.080.30 绝缘系统
29.080.99 有关绝缘的其他标准
29.100 电气设备元件
29.100.01 电气设备元件综合
29.100.10 磁性元件
29.100.20 电气和机电元件
29.100.99 电气设备用其他元件
29.120 电工器件
29.120.01 电工器件综合
29.120.10 导线管
29.120.20 连接装置
29.120.30 插头、插座、连接器
29.120.40 开关
29.120.50 熔断器和其他过载保护装置
29.120.60 开关装置和控制器
29.120.70 继电器
29.120.99 其他电工器件
29.130 开关装置和控制器
29.130.01 开关装置和控制器综合
29.130.10 高压开关装置和控制器
29.130.20 低压开关装置和控制器
29.130.99 其他开关装置和控制器
29.140 电灯及有关装置
29.140.01 电灯综合
29.140.10 灯头和灯座
29.140.20 白炽灯
29.140.30 荧光灯、放电灯
29.140.40 照明设备
29.140.50 照明安装系统
29.140.99 有关灯的其他标准
29.160 旋转电机
29.160.01 旋转电机综合
29.160.10 旋转电机部件
29.160.20 发电机
29.160.30 电动机
29.160.40 发电机组
29.160.99 有关旋转电机的其他标准
29.180 变压器、电抗器、电感器
29.200 整流器、转换器、稳压电源
29.220 电池和蓄电池
29.220.01 电池和蓄电池综合
29.220.10 原电池和蓄电池
29.220.20 酸性蓄电池
29.220.30 碱性蓄电池
29.220.99 其他电池和蓄电池
29.240 输电网和配电网
29.240.01 输电网和配电网综合
29.240.10 变电站、电涌放电器
29.240.20 输电线路和配电线路
29.240.30 电力系统用控制设备
29.240.99 其他有关输电网和配电网的设备
29.260 特殊工作条件下用电气设备
29.260.01 特殊工作条件下用电气设备综合
29.260.10 户外用电气设备
29.260.20 易爆环境用电气设备
29.260.99 特殊工作条件用其他电气设备
29.280 电力牵引设备
左右滑动表格，可查看日期并点击排序
标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 6621-2009硅片表面平整度测试方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 24580-2009重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 24577-2009热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物现行2009-10-302010-06-01
GB/T 6618-2009硅片厚度和总厚度变化测试方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 4061-2009硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 13387-2009硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 24526-2009炭素材料全硫含量测定方法现行2009-10-302010-05-01
GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 24525-2009炭素材料电阻率测定方法现行2009-10-302010-05-01
GB/T 11072-2009锑化铟多晶、单晶及切割片现行2009-10-302010-06-01
GB/T 24579-2009酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物现行2009-10-302010-06-01
GB/T 1554-2009硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 6624-2009硅抛光片表面质量目测检验方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 14141-2009硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 13388-2009硅片参考面结晶学取向X射线测试方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 6617-2009硅片电阻率测定 扩展电阻探针法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 6620-2009硅片翘曲度非接触式测试方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 6619-2009硅片弯曲度测试方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 24576-2009高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 12963-2009硅多晶现行2009-10-302010-06-01

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