29.045 半导体材料

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
SJ/T 11492-2015	光致发光法测定磷镓砷晶片的组分	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11494-2015	硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11491-2015	短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11498-2015	重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11500-2015	碳化硅单晶晶向的测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11499-2015	碳化硅单晶电学性能的测试方法	已废止	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11497-2015	砷化镓晶片热稳定性的试验方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11496-2015	红外吸收法测量砷化镓中硼含量	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11505-2015	蓝宝石单晶抛光片规范	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11504-2015	碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11503-2015	碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11502-2015	碳化硅单晶抛光片规范	已废止	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11501-2015	碳化硅单晶晶型的测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
GB/T 31474-2015	电子装联高质量内部互连用助焊剂	现行	2015-05-15	2016-01-01
GB/T 31475-2015	电子装联高质量内部互连用焊锡膏	现行	2015-05-15	2016-01-01
GB/T 31476-2015	电子装联高质量内部互连用焊料	现行	2015-05-15	2016-01-01
GB/T 31854-2015	光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法	现行	2015-07-03	2016-03-01
SJ/T 11552-2015	以布鲁斯特角入射P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量	现行	2015-10-10	2016-04-01
GB/T 32279-2015	硅片订货单格式输入规范	现行	2015-12-10	2017-01-01
GB/T 32277-2015	硅的仪器中子活化分析测试方法	现行	2015-12-10	2017-01-01