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31 电子学

收录 3011 项

下级分类

31.020 电子元器件综合

31.030 电子技术专用材料

31.040 电阻器

31.040.01 电阻器综合

31.040.10 固定电阻器

31.040.20 电位器、可变电阻器

31.040.30 热敏电阻器

31.040.99 其他电阻器

31.060 电容器

31.060.01 电容器综合

31.060.10 固定电容器

31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器

31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器

31.060.40 钽电解电容器

31.060.50 铝电解电容器

31.060.60 可变电容器

31.060.70 电力电容器

31.060.99 其他电容器

31.080 半导体分立器件

31.080.01 半导体分立器件综合

31.080.10 二极管

31.080.20 晶体闸流管

31.080.30 三极管

31.080.99 其他半导体分立器件

31.100 电子管

31.120 电子显示器件

31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件

31.160 滤波器

31.180 印制电路和印制电路板

31.190 电子元器件组件

31.200 集成电路、微电子学

31.220 电子电信设备用机电元件

31.220.01 机电元件综合

31.220.10 插头和插座装置、连接器

31.220.20 开关

31.220.99 其他机电零部件

31.240 电子设备用机械构件

31.260 光电子学、激光设备

左右滑动表格，可查看日期并点击排序

标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 35009-2018	串行NAND型快闪存储器接口规范	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 36101-2018	LED显示屏干扰光评价要求	现行	2018-03-15	2018-10-01
GB/T 35010.2-2018	半导体芯片产品第2部分：数据交换格式	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35010.6-2018	半导体芯片产品第6部分：热仿真要求	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 36005-2018	半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法	现行	2018-03-15	2018-10-01
GB/T 35010.3-2018	半导体芯片产品第3部分：操作、包装和贮存指南	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35003-2018	非易失性存储器耐久和数据保持试验方法	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 6346.2501-2018	电子设备用固定电容器第25-1部分：空白详细规范表面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器评定水平EZ	现行	2018-03-15	2018-07-01
GB/T 6346.25-2018	电子设备用固定电容器第25部分：分规范表面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器	现行	2018-03-15	2018-07-01
GB/T 35010.1-2018	半导体芯片产品第1部分：采购和使用要求	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35002-2018	微波电路频率源测试方法	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35005-2018	集成电路倒装焊试验方法	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35010.8-2018	半导体芯片产品第8部分：数据交换的EXPRESS格式	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35008-2018	串行NOR型快闪存储器接口规范	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35006-2018	半导体集成电路电平转换器测试方法	现行	2018-03-15	2018-08-01
SJ/T 10805-2018	半导体集成电路电压比较器测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11700-2018	IP核质量信息描述方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11708-2018	功率电机驱动器测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11702-2018	半导体集成电路串行外设接口测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11706-2018	半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01