31.200 集成电路、微电子学

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 35010.2-2018	半导体芯片产品第2部分：数据交换格式	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35010.6-2018	半导体芯片产品第6部分：热仿真要求	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35010.3-2018	半导体芯片产品第3部分：操作、包装和贮存指南	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35003-2018	非易失性存储器耐久和数据保持试验方法	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35010.1-2018	半导体芯片产品第1部分：采购和使用要求	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35002-2018	微波电路频率源测试方法	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35005-2018	集成电路倒装焊试验方法	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35010.8-2018	半导体芯片产品第8部分：数据交换的EXPRESS格式	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35008-2018	串行NOR型快闪存储器接口规范	现行	2018-03-15	2018-08-01
GB/T 35006-2018	半导体集成电路电平转换器测试方法	现行	2018-03-15	2018-08-01
SJ/T 10805-2018	半导体集成电路电压比较器测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11700-2018	IP核质量信息描述方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11702-2018	半导体集成电路串行外设接口测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11706-2018	半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11703-2018	数字微电子器件封装的串扰特性测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11705-2018	微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11701-2018	通用NAND型快闪存储器接口	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11704-2018	微电子封装的数字信号传输特性测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 2406-2018	微波电路型号命名方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11699-2018	IP核可测试性设计指南	现行	2018-02-09	2018-04-01